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détermination de structuresDiffraction et diffusion XDRX in siturelations structures/propriétés
Caractérisations avancées
Les axes méthodologiques de l’équipe en lien avec MaTerRe sont :
- Etudes des relations structures/propriétés par diffraction des rayons X (DRX) de
- matériaux ayant de potentielles propriétés de stockage (zéolites par ex)
- complexes moléculaires ou matériaux présentant des propriétés remarquables contrôlés par les stimuli pression ou température (transition de spin, transfert de charge, mécanochromisme, polymérisation, …)
- nano-objets ou objets aux premiers stades de la nucléation par l’approche de la fonction de distribution de paires
- Etudes structurales in situ par DRX sous pression, température et atmosphère contrôlées de microquantités (0.005mm3).
- Approche combinée microdiffraction / microfluorescence X.
- Continuité des expériences avec les synchrotrons : gestion d’un BAG (Block Allocation Group) sur la ligne CRISTAL du synchrotron SOLEIL.
- Etude structurale et chimique de nanomatériaux par microscopie électronique en transmission (à balayage) (S)TEM et par spectroscopie de pertes d’énergie des électrons (EELS), à très haute résolution spectrale en particulier avec l’acquisition d’un instrument rare NION HERMES 200keV SX (fin 2024).
- Développement de nouvelles instrumentations et méthodes expérimentales pour la spectroscopie EELS.
Plateformes et équipement
- Plateforme de DRX labellisée par Sorbonne Université et ouverte à toute la communauté.
- Microscope PANAM du GdS PANAM (Sorbonne Université/CNRS/Université Paris Cité) – NION HERMES 200keV SX (fin 2024)